ОПРЕДЕЛЕНИЕ СТОЙКОСТИ МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ СИСТЕМ К НЕДОКУМЕНТИРОВАННОМУ ДОСТУПУ ПО КАНАЛУ ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЯ

Специальность 2.2.2 – электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств

ДИССЕРТАЦИЯ на соискание учёной степени кандидата технических наук

Автор
Кондрашов Кирилл Константинович
Год
2024
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации

ОГЛАВЛЕНИЕ

ВВЕДЕНИЕ ...................................................................................................................... 4

ГЛАВА 1. НЕДОКУМЕНТИРОВАННЫЙ ДОСТУП К

МИКРОПРОЦЕССОРНЫМ СИСТЕМАМ ПО КАНАЛУ

ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЯ ............................................................................................. 11

1.1 Информационная утечка активной микропроцессорной системы по

побочным каналам ..................................................................................................... 11

1.2 Появление и развитие методов доступа к микропроцессорным системам по

побочным каналам ..................................................................................................... 18

1.3 Основы доступа к микропроцессорной системе по каналу

энергопотребления ..................................................................................................... 22

1.4 Методика извлечения информации из микропроцессорной системы по

побочным каналам ..................................................................................................... 27

1.5 Свойства и разновидности доступа к данным по каналу энергопотребления

...................................................................................................................................... 31

1.6 Меры защиты микропроцессорных систем от доступа по побочным каналам

...................................................................................................................................... 37

1.7 Заключение главы 1 ............................................................................................. 43

ГЛАВА 2. МЕТОДОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ТЕСТИРОВАНИЯ НА

СТОЙКОСТЬ К ДОСТУПУ ПО КАНАЛУ ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЯ ................... 44

2.1 Подключение измерительного оборудования и снятие сигнала .................... 44

2.2 Получение и предварительный анализ осциллограмм .................................... 50

2.3 Использование графических изображений сигнала при тестировании ......... 56

2.4 Условия тестирования микропроцессорных систем на стойкость к доступу 60

2.5 Критерии стойкости микропроцессорных систем к доступу .......................... 63

2.6 Тестирование микропроцессорных систем в составе приборов ..................... 70

2.7 Заключение главы 2 ............................................................................................. 74

ГЛАВА 3. АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ

КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ СИСТЕМ ...... 75

3

3.1 Принципы автоматизации процедуры тестирования ....................................... 75

3.2 Описание технических средств .......................................................................... 78

3.3 Сбор и предварительная обработка сигналов ................................................... 82

3.4 Распознавание импульсов и определение их характеристик .......................... 90

3.5 Статистическое усреднение и сохранение результатов эксперимента .......... 94

3.6 Обработка полученных результатов ................................................................ 100

3.7 Заключение главы 3 ........................................................................................... 106

ГЛАВА 4. ТЕСТИРОВАНИЕ МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ НА СТОЙКОСТЬ К СЧИТЫВАНИЮ ВНУТРЕННЕЙ ПАМЯТИ ПО КАНАЛУ ЭНЕРГОПОТРЕБЛЕНИЯ ........................................................................................... 107

4.1 Тестирование микроконтроллеров с побайтовым доступом к памяти ........ 107

4.2 Тестирование микроконтроллеров с пословным доступом к памяти .......... 115

4.3 Тестирование микроконтроллеров с помощью процедуры верификации внутренней памяти ................................................................................................... 126

4.4 Тестирование запрограммированных микроконтроллеров ........................... 132

4.5 Общая методика тестирования микроконтроллеров...................................... 135

4.6 Заключение главы 4 ........................................................................................... 137

ЗАКЛЮЧЕНИЕ ........................................................................................................... 141

СОКРАЩЕНИЯ И УСЛОВНЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ ................................................. 144

ЛИТЕРАТУРА ............................................................................................................. 147

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Холохоев Ислам Суламбекович
Количество страниц
211
Год
2024
99 000 UZS
Автор
Харитонова Ольга Евгеньевна
Количество страниц
211
Год
2024
99 000 UZS
Автор
Коренченко Роман Евгеньевич
Количество страниц
209
Год
2024
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3