Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
Дементьева Мария Михайловна. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения: диссертация ... кандидата Физико-математических наук: 01.04.01 / Дементьева Мария Михайловна;[Место защиты: ФГБУ «Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт»], 2019
