Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
Окунев Алексей Олегович. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.01 / Окунев Алексей Олегович; [Место защиты: ГОУВПО "Удмуртский государственный университет"].- Ижевск, 2009.- 333 с.: ил.
