Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел
Вайнштейн, Дмитрий Львович. Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07.- Москва, 2000.- 92 с.: ил. РГБ ОД, 61 01-1/88-7
