Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
Казанцев Дмитрий Всеволодович. Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.05 Москва, 2006 216 с. РГБ ОД, 71:07-1/136