Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума

Смирнов Дмитрий Юрьевич. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума: автореферат дис. ... доктора технических наук: 05.27.01 / Смирнов Дмитрий Юрьевич;[Место защиты: ФГБОУВПО ,,Воронежский государственный технический университет”].- Воронеж, 2012.- 44 с.
Автор
Смирнов Дмитрий Юрьевич
Год
2012

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Разработка методик проектирования преобразователей частоты в интегральном исполнении
99 000 UZS
Автор
Сумин, Андрей Михайлович
Количество страниц
Год
2012
Исследование и разработка субмикронных интегральных микросхем управления для мощных малогабаритных источников вторичного электропитания в режиме мягкой коммутации силовых ключей
99 000 UZS
Автор
Антонов Андрей Андреевич
Количество страниц
Год
2016
Микромагнитные состояния эпитаксиальных микро- и наноструктур Fe(001) и Fe(011)
99 000 UZS
Автор
Фомин, Лев Александрович
Количество страниц
Год
2012
Диффузионно-дрейфовая модель графенового полевого транзистора для использования в системах автоматизированного проектирования
99 000 UZS
Автор
Целыковский, Александр Анатольевич
Количество страниц
Год
2012
Влияние структурных превращений на электрофизические свойства стекол электронной техники С87-2, С78-4, С78-5
99 000 UZS
Автор
Шомахов, Замир Валериевич
Количество страниц
Год
2012
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3