Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии
Мисуркин Павел Игоревич. Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии: автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук: 01.04.07 / Мисуркин Павел Игоревич;[Место защиты: Институт химической физики им. Н.Н.Семенова РАН].- Москва, 2012.- 24 с.
