Характеризация полупроводниковых материалов и структур методами оптической спектроскопии и эллипсометрии

Характеризация полупроводниковых материалов и структур методами оптической спектроскопии и эллипсометрии

Физика полупроводников и диэлектриков - Физико-математические науки
Автор
Панов Михаил Федорович
Год
2025

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Устойчивость многолетнемерзлого основания автомобильной дороги при воздействии поверхностных длительно стоящих вод
99 000 UZS
Автор
Шанхоев Зураб Шабазгиреевич
Количество страниц
Год
2025
Типологическая дифференциация социальности в современном российском обществе
99 000 UZS
Автор
Бакланова Ольга Александровна
Количество страниц
Год
2025
Методика обучения студентов-юристов составлению международных правовых документов на иностранном языке на основе инструментов искусственного интеллекта (английский язык)
99 000 UZS
Автор
Гаврилов Максим Владимирович
Количество страниц
Год
2025
«Структурная организация и особенности регуляции транскрипционного фактора NIN, определившие его участие в контроле развития ризобиального симбиоза»
99 000 UZS
Автор
Канцурова Елизавета Степановна
Количество страниц
Год
2025
Разработка технологии получения нафтеновых масел из тяжелого нафтено-ароматического сырья
99 000 UZS
Автор
Матвеева Анна Ивановна
Количество страниц
Год
2025
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3