Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения
Шайблер Генрих Эрнстович. Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10.- Новосибирск, 2001.- 130 с.: ил. РГБ ОД, 61 01-1/850-0
