Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Шелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.13.- Ижевск, 2000.- 177 с.: ил. РГБ ОД, 61 01-5/1887-3
Автор
Шелковников, Евгений Юрьевич
Год
2000
  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Муратаева Галия Амировна
Количество страниц
Год
2011
99 000 UZS
Автор
Сафатов, Александр Сергеевич
Количество страниц
Год
2011
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3