Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС

Буздуган Алексей Анатольевич. Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.06 / Буздуган Алексей Анатольевич; [Место защиты: Моск. гос. ин-т электронной техники].- Москва, 2008.- 147 с.: ил. РГБ ОД, 61 09-5/975
Автор
Буздуган Алексей Анатольевич
Год
2008

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Исследование особенностей формирования массива кластеров серебра и структур на их основе для создания элементов функциональной электроники
99 000 UZS
Автор
Пятилова Ольга Вениаминовна
Количество страниц
Год
2015
Получение и исследование эпитаксиальных структур "полупроводник-фианит"
99 000 UZS
Автор
Бузынин Александр Николаевич
Количество страниц
Год
2008
Разработка основ технологии получения эпитаксиальных слоев GaN,InxGa1-xN и AlxGa1-xN методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений для светоизлучающих структур
99 000 UZS
Автор
Ермошин Иван Геннадьевич
Количество страниц
Год
2009
Разработка основ технологии новых металлоуглеродных нанокомпозитов и углеродного нанокристаллического материала под действием ИК нагрева полимеров
99 000 UZS
Автор
Козлов Владимир Валентинович
Количество страниц
Год
2009
Оборудование для контроля анодного тока при высоковольтной тренировке в производстве рентгеновских приборов
99 000 UZS
Автор
Перес Васкес Нельсон Отониель
Количество страниц
Год
2009
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3