Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Федоров Алексей Алексеевич. Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07.- Новосибирск, 2002.- 172 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-1/931-6