Исследование зависимости погрешности измерения от параметров объекта и процесса измерения в сканирующих оптоэлектронных информационно-измерительных системах

Исследование зависимости погрешности измерения от параметров объекта и процесса измерения в сканирующих оптоэлектронных информационно-измерительных системах

Автор
Пьей Сони Вин
Год
2021
  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Атеняев Александр Валерьевич
Количество страниц
Год
2021
99 000 UZS
Автор
Тырылгин Алексей Афанасьевич
Количество страниц
Год
2021
99 000 UZS
Автор
Белов Артем Алексеевич
Количество страниц
Год
2021
99 000 UZS
Автор
Сыздыкова Айгуль Шаяхметовна
Количество страниц
Год
2021
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3