Введение
Глава 1. Обзор 16
1.1. Сильные трехмерные топологические изоляторы 16
1.2. Теоретические основы метода ЯМР 21
1.3. Обзор исследований «сильных» топологических изоляторов Bi2Te3 и Bi2Se3 методом ЯМР 27
Глава 2. Экспериментальное оборудование и образцы 33
2.1. Исследуемые образцы 33
2.2. Экспериментальное оборудование и детали эксперимента 39
Глава 3. Измерения спектров ЯМР 125Te для кристаллического порошка топологического изолятора Bi2Te3 при комнатной температуре 48
3.1. Введение 48
3.2. Экспериментальные результаты 48
3.3. Анализ спектров 50
3.4. Заключение 52
Глава 4. ЯМР-измерения порошка топологического изолятора Bi2Te3 в широком интервале температур 53
4.1. Введение 53
4.2. Экспериментальные результаты 53
4.3. Анализ температурных зависимостей 55
4.4. Заключение 61
Глава 5. ЯМР-измерения монокристаллических пластин Bi2Te3 в двух ориентациях при комнатной температуре 62
5.1. Введение 62
5.2. Экспериментальные результаты и обсуждение 63
5.3. Заключение 67
Глава 6. ЯМР-измерения монокристаллических пластин Bi2Te3 в широком диапазоне температур 68
6.1. Введение 68
6.2. Экспериментальные результаты и обсуждение 71
6.2.1. Монокристаллические пластины Bi2Te3 в ориентации c B0 71
6.2.2. Монокристаллические пластины Bi2Te3 в ориентации c B0 75
6.3. Заключение 76
Глава 7. Измерения времени спин-решеточной релаксации в Bi2Te3 78
7.1. Введение 78
7.2. Эксперимент и обсуждение результатов 81
7.3. Заключение 88
Глава 8. ЯМР-измерения монокристаллической пластины Bi2Se3 при различных температурах 90
8.1. Введение 90
8.2. Экспериментальные результаты и обсуждение 93
8.2.1. Монокристалл Bi2Se3 в ориентации c B0 93
8.2.2. Монокристалл Bi2Se3 в ориентации с B0 96
8.3. Заключение 102
Основные результаты диссертационной работы 104
Публикации по теме диссертации 107
Литература 109
