Введение
Глава 1. Анализ современного состояния электромагнитных методов и приборов контроля толщины покрытий и стенок изделий 14
1.1. Классификация материалов и изделий, анализ задач измерения толщины 14
1.2. Обобщенная структура задач измерения толщины стенок изделий 26
1.3. Обобщенная структура задач измерения толщины покрытий 28
1.4. Анализ современного состояния основных методов неразрушающего контроля и возможности их использования для измерения толщины стенок изделий и защитных покрытий и их сравнительные характеристики 31
1.5. Анализ современного состояния приборов электромагнитного неразрушающего контроля и мониторинга толщины покрытий и стенок изделий 39
1.6. Постановка задач исследований 64
Глава 2. Теоретическое обоснование электромагнитных методов контроля толщины покрытий и стенок изделий с обеспечением заданной достоверности результатов измерения 67
2.1. Теоретическое обоснование вихретокового вида неразрушающего контроля толщины стенок изделий и защитных покрытий. Анализ применимых методов, контролируемых и мешающих параметров 67
2.1.1. Общая характеристика вихретокового вида неразрушающего контроля 67
2.1.2. Вихретоковый фазовый метод измерения толщины электропроводящих ферро- и неферромагнитных покрытий 78
2.1.3. Вихретоковый амплитудный метод измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих основаниях 80
2.1.4. Вихретоковый амплитудно - фазовый метод измерения толщины покрытий на электропроводящих основаниях 81
2.1.5. Вихретоковый частотный метод измерения толщины диэлектрических и электропроводящих покрытий на электропроводящих основаниях 83
2.1.6. Вихретоковые фазовый и амплитудно - фазовый методы измерения толщины стенок электропроводящих изделий 86
2.1.7. Вихретоковый фазовый метод измерения остаточной толщины слоев многослойных электропроводящих неферромагнитных изделий и глубины залеганий расслоений углепластиковых изделий 89
2.1.8. Обобщенные структурные схемы вихретоковых фазового, амплитудно-фазового и частотного толщиномеров. Контролируемые и мешающие параметры 92
2.2. Магнитоиндукционный метод неразрушающего контроля толщины покрытий и стенок изделий. Анализ метода, контролируемых и мешающих параметров 94
2.2.1. Общая характеристика магнитоиндукционного метода измерения толщины покрытий 94
2.2.2. Обобщенная структура измерительного преобразователя магни-тоиндукционных толщиномеров 97
2.2.3. Обобщенная структурная схема магнитоиндукционного толщиномера. Контролируемые и мешающие параметры 102
Выводы к главе 2 104
Глава 3. Методические принципы построения и расчета измерительных преобразователей толщиномеров покрытий и стенок изделий, методы преобразования и обработки измерительной информации 105
3.1. Методические принципы построения вихретоковых измерительных преобразователей и оптимизация их характеристик 105
3.2. Основные методические принципы построения вихретоковых толщиномеров, обеспечивающих подавление мешающих параметров 115
3.3. Геометрически и электрически подобные вихретоковые первичные измерительные преобразователи 125
3.4. Разработка и оптимизация методик и алгоритмов измерения толщины покрытий и стенок изделий, обеспечивающих подавление влияния мешающих параметров на результаты измерения 133
3.5. Методические принципы построения магнитоиндукционных измерительных преобразователей и оптимизация их характеристик 193
3.6. Оптимизация параметров геометрически подобных магнитоиндукционных первичных измерительных преобразователей с внешним ферромагнитным экраном 205
3.7. Разработка алгоритмов возбуждения магнитного поля и обработки первичной измерительной информации, обеспечивающих подавление влияния мешающих параметров 242
Выводы к главе 3 251
Глава 4. Метрологическое обеспечение требуемой достоверности измерений толщины покрытий и стенок изделий 253
4.1. Основные принципы стандартизации в области измерения толщины защитных покрытий и стенок изделий 253
4.2. Жизненные циклы толщиномеров покрытий и стенок изделий 254
4.3. Схемы передачи размеров толщины покрытий. Выбор характеристик и установление номенклатуры наборов мер толщины покрытий 258
4.4. Разработка и исследование мер толщины металлических и диэлектрических покрытий 262
4.5. Характеристики толщиномеров и параметры объектов контроля, определяющие достоверность результатов измерений толщины 275
Выводы к главе 4 284
Глава 5. Экспериментальные исследования методов, многофункциональных приборов и систем мониторинга толщины покрытий и стенок изделий 285
5.1. Многофункциональные электромагнитные приборы измерения геометрических параметров изделий 285
5.2. Толщинометрия диэлектрических покрытий общего назначения 294
5.3. Толщинометрия специальных покрытий и стенок изделий большой толщины 301
5.4. Толщинометрия металлических покрытий 310
5.5. Толщинометрия многослойных покрытий 318
5.6. Меры толщины покрытий электромагнитных толщиномеров 326
5.7. Толщинометрия стенок изделий из электропроводящих неферромагнитных материалов 332
5.8. Методики и аппаратура сканирования при толщинометрии покрытий и стенок изделий 336
5.9. Обработка, представление и хранение измерительной информации при толщинометрии покрытий и стенок изделий 343
Выводы к главе 5 347
Заключение 348
Список литературы 350
