Введение
Глава I. Опыт создания и применения масс-спектрометров с лазерно-плазменным источником ионов 7
1.1. Аналитические возможности применения лазерных источников ионов в масс-спектрометрии . 7
1.2. Параметры плазмы, определяющие характеристики масс-спектрометра с лазерно-плазменным источником ионов 13
1.3. Выбор ионно-оптической схемы масс-спектрометра с лазерно-плазменным источником ионов 21
1.4. Выводы 26
Глава II. Расчет и выбор параметров элементов ионно-оптической схемы масс-спектрографа с лазерно-плазменным источником ионов 28
2.1. Параметры ионно-оптической схемы масс-спектрографа с двойной фокусировкой 28
2.2. Выбор параметров электростатического анализатора 31
2.4. Расчет формирующей системы источника ионов 56
2.5. Аналитическая система масс-спектрографа 62
2.6. Выводы 68
Глава III. Исследование процессов,влияющих на аналитические характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов . 70
3.1. Влияние преломления ионного пучка на границе электрического поля электростатического анализатора 70
3.2. Особенности юстировки масс-спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов 81
3.3. Оценка влияния объемного заряда ионного пучка в аналитической части масс-спектрографа 88
3.4. Влияние остаточного давления газа на аналитические характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой 98
3.5. Экранирующее действие кратера при локальном и послойном анализе 113
3.6. Выводы
Глава ІV. Аналитические возможности лазерного энергомасс-анализатора ЭМАЛ-2 при исследовании твердых веществ 125
4.1. Аппаратурные возможности прибора 125
4.2. Аналитические характеристики энергомасс-анализатора 128
4.3. Исследование сегрегации примесей в сварных швах 137
4.4. О возможности безэталонного количественного анали за многокомпонентной пробы 146
4.5. Пути улучшения аналитических возможностей масс- спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов 169
Заключение 173
Приложение I 176
