Введение
Глава 1. Основные методы моделирования и принципы организации сканирующих зондовых микроскопов ближнего поля 11
1.1 .Введение 11
1.2. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии 12
1.3. Режимы работы оптических микроскопов ближнего поля 14
1.4. Методы математического моделирования световых полей рассеяния в ближней зоне 18
1.5. Обработка изображений полученных посредством сканирующей зондовой микроскопии ближнего поля 20
1.6. Зонды для оптической сканирующей микроскопии 23
1.7. Выводы 24
Глава 2. Математические модели рассеяния световых полей в ближней зоне. Алгоритм обратной связи сканирующего оптического микроскопа ближнего поля (СОМБП) 26
2.1.Введение 26
2.2. Математические модели рассеяния световых полей в ближней зоне. 26
2.3. Алгоритм обратной связи сканирующего оптического микроскопа ближнего поля (СОМБП) 39
2.4 Выводы 45
Глава 3. Математические методы обработки изображений, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) 47
3.1. Введение 47
3.2. Преобразования Фурье 47
3.3. Вейвлет — преобразования 49
3.3.1 Непрерывные и дискретные вейвлет — преобразования 49
3.3.2. Стационарные вейвлеты 60
3.3.3 Пакетные вейвлет - преобразования 63
3.4. Методы анализа фрактальных характеристик различных микроскопических объектов 65
3.4.1. Методы измерения фрактальных размерностей поверхностей микрообъектов 66
3.4.2. Метод WTMM 72
3.4.3 Фрактальные методы сжатия изображений 77
3.5 Выводы 80
Глава 4 Моделирование оптических элементов нанометровых размеров 82
4.1 Введение 82
4.2. Алгоритмы расчета фокусирующих характеристик микролинз для оптической микроскопии 82
4.3. Моделирование коаксиального оптического световода 89
4.4 Комплекс программ для сканирующей зондовой микроскопии ближнего поля 95
4.5 Выводы 97
Заключение 98
Литература 101
