Введение
ГЛАВА 1 Тестирование сбоеустойчивости микропроцессоров 11
1.1 Сбоеустойчивость цифровых интегральных схем к ионизирующему излучению космического пространства 11
1.2 Тестирование сбоеустойчивости с помощью инъекций сбоев 16
1.3 Методы инъекции сбоев 23
1.4 Инъекция сбоев с помощью внутрикристального отладчика микропроцессора 27
1.5 Микропроцессоры типа система на кристалле 32
1.6 Выводы по главе и постановка задачи 36
ГЛАВА 2 Инъекции сбоев с помощью аппаратного блока внесения инъекций в микропроцессор типа система на кристалле 38
2.1 Модель сбоев и требования для инъектирования в микропроцессор типа система на кристалле 38
2.2 Метод инъекции сбоев в микропроцессор типа система на кристалле с помощью аппаратного блока инъектирования 40
2.3 Аппаратно-программная система для инъекции сбоев в микропроцессор типа система на кристалле
2.3.1 Режим с остановкой процессора 43
2.3.2 Режим без остановки процессора
2.4 Методики для осуществления инъекций сбоев в микропроцессор типа система на кристалле 49
2.5 Возможности контролепригодности 58
2.6 Выводы по главе 59
ГЛАВА 3 Система для инъекций сбоев для микропроцессора LEON3 61
3.1 Исходные данные для разработки 61
3.2 Детализированная структура системы инъекции сбоев для процессора LEON3 63
3.3 Аппаратное обеспечение системы инъекций сбоев
3.3.1 Структурная схема IP-блока инъектора сбоев 65
3.3.2 Описание работы инъектора сбоев 74
3.3.3 Модификация контроллера внешней памяти 80
3.3.4 Работа конвейера LEON3 при обнаружении сбоя в регистровом файле 82
3.4 Программное обеспечение системы инъекций сбоев 84
3.5 Выводы по главе 91
ГЛАВА 4 Результаты экспериментальных исследований 93
4.1 Планирование экспериментальных исследований 93
4.2 Верификация системы для инъекции сбоев 94
4.3 Демонстрация возможностей системы для инъекций сбоев 99
4.4 Выводы по главе 107
Заключение 108
Список использованных источников 110
Приложение а – конфигурационные настройки целевой системы 123
