Введение
Глава 1... Исследование методов и средств атомно-эмиссионного спектрального анализа 9
1.1 Назначение метода, его цели и задачи 9
1.2 Методы регистрации спектров 14
1.2.1 Фотографический метод 14
1.2.2 Фотоэлектрический метод 18
1.3 Погрешности при АЭСА 20
1.3.1 Оценка погрешностей при фотографическом методе 22
1.3.2 Оценка погрешностей при фотоэлектрическом методе 23
1.4 Влияние механических свойств и структурных параметров на результаты спектрального анализа 25
1.5 Уменьшение влияния структуры 30
1.6 Совершенствование фотоэлектрических систем 31
1.6.1 Многоканальные приемники излучения 33
1.7 Автоматизированные измерительные комплексы 34
1.7.1 Автоматизированные фотографические системы 35
1.7.2 Автоматизированные фотоэлектрические системы 37
1.8 Выводы 41
Глава 2. Разработка модели низкотемпературной плазмы для определения химического состава 43
2.1 Предпосылки создания модели 43
2.2 Модель низкотемпературной плазмы 44
2.3 Методика контрольного эталона 50
2.3.1 Приближенный анализ 50
2.3.2 Уточненный анализ 54
2.4 Методика внутреннего стандарта 59
2.4.1 Задающая функция 59
2.4.2 Сущность методики 63
2.4.3 Энергетическая совместимость 69
2.4.4 Практические результаты 76
2.4.5 Особенности расчета при фотоэлектрическом анализе 76
2.5 Экспериментальная проверка методов 79
2.6 Выводы 85
Глава 3. Контроль физико-механических свойств с помощью АЭС А 86
3.1 Теоретические основы метода 87
3.2 Пример расчёта 95
3.3 Экспериментальная проверка 101
3.4 Выводы 106
Глава 4 Автоматизированные системы комплексного анализа внутреннего состава материалов 108
4.1 Аппаратная часть 108
4.1.1 Общие сведения и характеристики ПЗС 113
4.1.2 ПЗС как приборы регистрации спектров 116
4.2 Программное обеспечение 121
4.2.1 Алгоритм поиска спектральных линий 121
4.2.2 Общие сведения о разработанном программном обеспечении 124
4.2.3 Калибровка 127
4.2.4 Проведение измерений 131
4.3 Системы входного контроля 132
4.4 Выводы 133
Заключение 134
Библиографический список 136
Приложение 1 148
Приложение 2 149
Приложение 3 150
Приложение 4 153
Приложение 5 155
Приложение 6 157
