Введение
1. Современные методы анализа и испытаний СЖАТ 8
1.1. Задачи анализа и испытаний СЖАТ 8
1.2. Характеристика временных свойств современной микроэлектронной аппаратуры 16
1.3. Сертификационные испытания СЖАТ 22
1.4. Выводы 30
2. Методы обнаружения временных задержек 31
2.1. Модели временных задержек в логических схемах 31
2.2. Виды тестов временных задержек 37
2.3. Способы тестирования и обнаружения временных задержек 44
2.4. Выводы и постановка задачи диссертации 55
3. Матричные методы анализа неисправностей типа «временная задержка» 57
3.1. Матричные модели логических схем 57
3.2. Алгоритмы преобразования МО 65
Алгоритмы построения сокращенной ЭНФ для соседних тестов 69
3.3.1. Правила подстановки значений в ТМО 69
3.3.2. Вычисление сокращенной ЭНФ по ТМО 74
3.4. Теоремы анализа сокращенных ЭНФ 81
3.5. Теоремы анализа сокращенных ЭНФ для несоседних тестов 94
3.6. Анализ несоседних тестов 96
3.7. Выводы 105
4. Исследование отношений между временными задержками и отказами в контактных схемах 106
4.1. Алгебраический метод вычисления тестов для временных задержек 106
4.2. Вычисление тестов для временных задержек через тесты для контактных схем 117
4.3. Тесты временных задержек для особенных классов схем 123
4.3.1. Бесповторные схемы 123
4.3.2. Монотонные схемы 124
4.3.3. Линейные схемы 128
4.4. Метод определения тестируемости временных задержек в комбинационной схеме 134
4.5. Выводы 140
5. Методика испытаний аппаратуры СЖАТ для временных задержек 141
5.1. Методы контроля и измерения параметров электронной аппаратуры СЖАТ 141
5.2. Способы введения временных задержек в модель логической схемы 147
5.3. Моделирование схем, преобразованных в эквивалентное дерево 151
5.4. Моделирование задержек в триггерных схемах 156
5.5. Моделирование узлов АБ-ЧКЕ 161
5.6. Выводы 176
Заключение 182
Список литературы
