Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования

Аль Матариех Рами. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12.- Харьков, 2000.- 18 с.: ил.
Автор
Аль Матариех Рами
Год
2000
  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Пастернак, Юрий Геннадьевич
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Ретинский, Валерий Степанович
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Муратов, Василий Александрович
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Рогозин Евгений Алексеевич
Количество страниц
Год
2000
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3