Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования
Аль Матариех Рами. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12.- Харьков, 2000.- 18 с.: ил.