Введение
Глава 1. Тенденции развития, основные параметры, принципы построения микросхем флэш памяти 10
1.1. Современное состояние и перспективы развития энергонезависимой памяти для систем управления электронной аппаратуры военной и космической техники... 10
1.2. Принципы работы ячеек флэш памяти 14
1.3. Схемотехнические и технологические особенности реализации ячеек микросхем флэш памяти 18
1.4. Анализ методов и средств для обеспечения контроля работоспособности микросхем флэш памяти при радиационных испытаниях 28
1.4.1. Методы контроля работоспособности флэш памяти при радиационных испытаниях 28
1.4.2. Средства контроля работоспособности флэш памяти при радиационных испытаниях 29
1.5. Выводы 33
Глава 2. Расчетно-экспериментальное моделирование радиационных отказов микросхем флэш памяти 35
2.1. Расчетно-экспериментальное моделирование микросхем флэш памяти к дозовым эффектам 35
2.1.1. Основные дозовые эффекты в СБИС флэш памяти 36
2.1.2.Механизмы потери информации в СБИС флэш памяти 40
2.1.3.Радиационные отказы схем управления 45
2.2. Моделирование сбоев при воздействии импульсного ионизирующего излучения 50
2.3. Исследование СБИС флэш памяти на воздействие отдельных ядерных частиц ... 52
2.4. Выводы 60
Глава 3. Влияние ионизирующего излучения на характеристики типовых представителей СБИС флэш памяти 62
3.1. Дозовые эффекты 62
3.2. Локальные радиационные эффекты 68
3.3. Объемные ионизационные эффекты в микросхемах флэш памяти 75
3.4.Влияния отдельных радиационных макродефектов на работоспособность микросхем флэш памяти 81
3.5. Выводы 83
Глава 4. Методическое обеспечение экспериментальных исследований радиационной стойкости микросхем флэш памяти 85
4.1. Выбор рационального состава экспериментальных исследований 85
4.2. Особенности задания режимов и контроля параметров микросхем флэш памяти при экспериментальных исследованиях 89
4.3. Особенности радиационных испытаний микросхем флэш памяти 99
4.4. Методическое обеспечение экспериментальных исследований на испытательных установках 102
4.5. Выводы 104
Глава 5. Аппаратно-программные средства для экспериментальных исследований радиационной стойкости микросхем флэш памяти 107
5.1. Анализ технических требований к экспериментальному оборудованию 107
5.2. Методы контроля работоспособности СБИС флэш памяти при радиационных испытаниях 112
5.3. Аппаратно-программные средства экспериментального комплекса 116
5.4. Средства контроля параметров стабильности флэш памяти 124
5.5. Выводы 129
Список литературы 131
