Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии
Мисуркин, Павел Игоревич. Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Мисуркин Павел Игоревич; [Место защиты: Науч.-исслед. физ.-хим. ин-т им. Л.Я. Карпова].- Москва, 2012.- 94 с.: ил. РГБ ОД, 61 12-1/834
