Многофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения : Туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля

Волков Юрий Петрович. Многофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения : Туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля : диссертация ... доктора технических наук : 05.11.16, 05.27.01.- Саратов, 2004.- 262 с.: ил. РГБ ОД, 71 05-5/743
Автор
Волков Юрий Петрович
Год
2004
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
ГЛАВ А 1. Общая корщепция построения информационно-измерительной системы сканирующей зондовои микроскопии
1.1. Введение 21
1.2. Схема построения сканирующей силовой и туннельной измерительных головок 22
1.3. Подсистема оптической микроскопии ближнего поля 27
1.4. Электронный блок управления универсальной информационно-измерительной системой СЗМ. 31
1.5. Особенности организации программного обеспечения информационно-измерительной системы СЗМ 34
ГЛАВА 2. Организация программного обеспечения универсальной информационно-измерительной системы сканирующей зондовои микроскопии
2.1. Введение 38
2.2. Особенности программного обеспечения для управления универсальным информационно-измерительным комплексом СЗМ .. 39
2.3. Организация обмена между встроенным компьютером и внешними ЭВМ с использованием высокопроизводительной локальной сети типа Ethernet 41
2.4. Принципы организации и особенности программного обеспечения, установленного во встроенном компьютере 44
2.5. Организация блока программ установленного во внешней ЭВМ 48
2.6. Алгоритм моделирования изображения для оптической микроскопии ближнего поля 55
ГЛАВА 3. Принципьі организации электронного блока управления универсальной информационно-измерительной системы сзм с цифровой обратной связью
3.1. Введение 65
3.2. Основные принципы построения электронного блока управления универсальным информационно-измерительным комплексом СЗМ с цифровой обратной связью 66
3.3. Использование встроенного одноплатного промышленного компьютера для управления информационно-измерительным комплексом СЗМ 78
ГЛАВА 4. Измерительные головки универсального комплекса сканирующей зондовои микроскопии
4.1. Введение 85
4.2. Особенности построения модульной конструкции вибростабильных механических узлов универсального комплекса сканирующей зондовой микроскопии
4.2.1 .Измерительная головка сканирующей силовой микроскопии 86
4.2.2. Многорежимная измерительная головка сканирующей туннельной микроскопии 93
4.2.3. Основные принципы построения многорежимного комплекса оптической микроскопии ближнего поля 104
4.3. Основные режимы работы комплекса оптической микроскопии ближнего поля и методы выделения полезного сигнала на фоне интенсивной посторонней засветки 111
4.4. Методика изготовления острий для оптической микроскопии ближнего поля 116
4.5. Анализ фокусирующих свойств сферических микролинз, имеющих диаметр, сравнимый с длиной волны фокусируемого излучения 123
ГЛАВА 5. Исследование перспективных материалов электронной техники и промышленности с помощью информационно-измерительного комплекса СЗМ
5.1. Введение 142
5.2. Исследование палладий-бариевых катодов методами сканирующей туннельной микроскопии 144
5.3. Исследование углеродных нанотрубок методами сканирующей зондовой и электронной микроскопии 150
5.4. Исследование перспективных полимерных композиционных материалов (базальто-, угле-, стеклопластиков) методами сканирующей зондовой микроскопии 152
5.5. Исследование поверхности магнитопластов методами сканирующей зондовой микроскопии 162
5.6. Исследование эффекта переключения проводимости с памятью методами сканирующей силовой микроскопии с одновременным измерением проводимости 169
ГЛАВА 6. Получение и исследование свойств полупроводниковых (кремниевых и германиевых) наносфер методами электронной и зондовой микроскопии
6.1. Введение 180
6.2. Получение углеродных, кремниевых и германиевых наноразмерных сферических частиц методами растворения в расплавленных металлах 181
6.3. Исследование свойств наночастиц методами трансмиссионной электронной и сканирующей туннельной микроскопии 182
6.4. Оптическая спектроскопия растворов полупроводниковых сферических наночастиц 200
ГЛАВА 7. Биологические приложения универсального информационно-измерительного комплекса СЗМ
7.1. Введение 205
7.2. Исследование бактерий особо опасных инфекций (чума, холера, сибирская язва) методами СЗМ 208
7.3. Электронно-микроскопическое изучение белков S-слоя сибиреязвенного микроба 215
7.4. Исследование срезов бактериальных клеток методами СЗМ и программное обеспечение для реконструкции трехмерного изображения по изображениям серийных срезов клеток 218
Заключение и выводы 225
Список использованной литературы 241

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Будько Василий Владиславович
Количество страниц
Год
2004
99 000 UZS
Автор
Гайдуков Борис Александрович
Количество страниц
Год
2004
99 000 UZS
Автор
Гарипов Вадим Кадимович
Количество страниц
Год
2004
99 000 UZS
Автор
Шамсутдинов Сергей Владимирович
Количество страниц
Год
2005
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3