Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине

Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине

Автор
Сивченко Александр Сергеевич
Год
2021

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Разработка метода и нейросетевого алгоритма краткосрочного прогнозирования почасового электропотребления гарантирующего поставщика
99 000 UZS
Автор
Серебряков Николай Александрович
Количество страниц
Год
2021
Педагогическая модель музыкально-образовательного процесса в условиях инклюзии
99 000 UZS
Автор
Смирнов Алексей Алексеевич
Количество страниц
Год
2021
Иммуноэндокринные звенья патогенеза психических расстройств при тироидите Хасимото
99 000 UZS
Автор
Соболевская Полина Анатольевна
Количество страниц
Год
2021
Моделирование движения двухфазных смесей в пористых средах с переменной пористостью и с учетом фазовых переходов
99 000 UZS
Автор
Сибин Антон Николаевич
Количество страниц
Год
2021
Разработка количественных методов оценки текстуры и анизотропии свойств магниевых сплавов методом обратных полюсных фигур
99 000 UZS
Автор
Сперанский Константин Андреевич
Количество страниц
Год
2021
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3