Введение
Глава 1 Современное состояние методов модификации жидких кристаллов 13
1.1. Диэлектрическая анизотропия в жидких кристаллах 14
1.2. Диэлектрическая проницаемость и временные характеристики жидких кристаллов 21
1.3. Эффект Фредерикса в жидких кристаллах 24
1.4. Методы исследования диэлектрической анизотропии в жидких кристаллах
1.4.1. Метод измерения тока и напряжения 26
1.4.2. Резонансный метод 28
1.4.3. Измерение емкости при помощи мостовой схемы переменного тока 29
1.4.4. Метод баллистического гальванометра
1.5. Изменение электрооптических свойств жидких кристаллов в связи с добавлением наночастиц 33
1.6. Механизмы влияния наночастиц на динамические свойства жидких кристаллов 38
1.7. Выводы по первой главе 40
Глава 2 Разработанная технология, экспериментальные установки и методика проведения эксперимента 42
2.1. Технология изготовления и конструкция жидкокристаллической ячейки 42
2.1.1. Материалы и технология изготовления образцов ЖК-пленок 42
2.1.2. Технология нанесения ПЖКП на проводящие стекла
2.1.2.1. Технология нанесения ПЖКП методом полива 45
2.1.2.2. Технология нанесения ПЖКП методом центрифугирования 46
2.1.3. Морфология ПЖКП 48
2.2. Нанопорошки, используемые как модификаторы ЖК-пленок 50
2.3. Установка для исследования электрооптических свойств жидких кристаллов 54
2.3.1. Общие сведения 54
2.3.2. Электрическая схема экспериментальной установки 57
2.3.3. Оптическая система экспериментальной установки 60
2.4. Экспериментальные установки для исследования диэлектрической анизотропии пленок жидких кристаллов 62
2.4.1 Установка по резонансному методу 62
2.4.2. Установка по методу измерения тока и напряжения 64
2.4.3. Установка по методу моста переменного тока
2.5. Методика измерения дипольного момента наночастиц 67
2.6. Стандартные методы и приборы, используемые при экспериментальном исследовании 2.6.1. Просвечивающая электронная микроскопия 70
2.6.2. Поляризационная микроскопия 72
2.6.3. Рефрактометрия 72
2.7. Выводы по второй главе 73
Глава 3 Экспериментальные измерения электрофизических параметров пджк-пленок,допированных наночастицами 74
3.1. Измерение диэлектрической проницаемости ПДЖК резонансным методом 74
3.2. Измерение диэлектрической проницаемости ПДЖК методом измерения тока и напряжения 75
3.3. Измерение диэлектрической проницаемости ПДЖК мостовым методом 77
3.4. Обобщение данных экспериментов по диэлектрической проницаемости ПДЖК-пленок 78
3.5. Дипольный момент наночастиц в ПДЖК-пленках 79
3.6 Оценка неопределенности экспериментальных измерений 84
3.7. Выводы по третьей главе 89
Глава 4 Электрооптические характеристики пджк-пленок, допированных наночастицами 90
4.1. Пленки с наночастицами оксидов 90
4.1.1. Температура фазового перехода и коэффициент рефракции 90
4.1.2. Электрооптические характеристики пленок 92
4.1.3. Скорость отклика пленки 93
4.1.4. Интенсивность пропускания света 97
4.1.5. Критическая напряженность поля в ПЖКП 98
4.2. Пленки с наночастицами металлов и композитов 99
4.2.1. Изменение коэффициента рефракции 99
4.2.2. Электрооптические характеристики пленок 100
4.2.3. Скорость отклика пленки
4.3. Корреляция времен включения ПЖКП и их диэлектрической анизотропии 104
4.4. Механизм влияния наночастиц на электрооптические свойства ПДЖК 106
4.5. Внедрение результатов работы в производство 110
4.6. Выводы по четвертой главе 111
Заключение 113
Список литературы 116
