Введение
Глава 1. Усовершенствование профильного анализа сложных мультиплетов перекрывающихся дифракционных отражений 11
1.1 Профильный анализ и его применение в порошковой дифрактометрии 11
1.2 Обзор существующего программного обеспечения. Требования, предъявляемые к программе 17
1.3. Программа PROFITVZ для профильного анализа порошкограмм, ее алгоритм и организация 21
1А Тестирование и апробация программы 28
1,5. Применение программы PROFITVZ в различных областях порошковой дифрактометрии 29
1.5.1. Изучение и паспортизация новых соединений 29
1.5.2. Исследование структурных фазовых переходов 32
1.5.3. Исследование тонкопленочных образцов 38
1.6 Результаты и выводы к Главе 1 42
Глава 2 Прецизионное определение интегральных интенсивностей из рентгендифракционных картин, полученных с помощью двумерных детекторов 44
2,1 - Двумерные детекторы в дифракционном эксперименте 45
2.1.1 Типы двумерных детекторов, применяющиеся в дифракционном оборудовании 45
2.1.2 Рентгендифракционный эксперимент с использованием вакуумной камеры 47
2.1.3 Программы обработки данных, получаемых с помощью двумерных детекторов, и пути повышения точности извлечения интегральных интенсивностей отражений 49
2,2. Графический просмотр и интегрирование данных РИП-эксперимента. Программа VIIPP 51
2.3.Применение программы VI1PP для обработки данных рентгендифракционного РИП-эксперимента 57
2.3.1. Эксперимент для монокристалла KNiF3 58
2.3.2. Уточнения мультипольной модели и сравнительный анализ их результатов. Распределение электронной плотности в кристалле KNiF3 по данным РИЛ- и четырех кружного экспериментов 62
2.3.3. Исследование электронной плотности в пентаэритритоле по результатам РИП-эксперимента при 15К 69
2.4, Результаты и выводы к Главе 2 75
Глава 3. Определение факторов пропускания рентгеновских лучей для кристалла произвольной формы, восстановленной по микрофотографиям 76
3.1. Обзор методов учета поглощения в рентгенодифракционном эксперименте 77
3.2. Определение границ кристалла на фотографии 87
3.2.К Постановка задачи 87
3.2.2 Анализ методов фильтрации изображений 88
3.2.3. Развитие метода анизотропной диффузии и применение его для сглаживания микрофотографий 104
3.2.4. Определение границ кристалла на фотографии 109
3.3. Восстановление трехмерной формы кристалла 113
3.4. Расчет поправок на поглощение 117
3.4.1 Расчет длин путей и интегрирование 120
3.5. Программная реализация метода 122
3.6. Применение метода для исследования электронной плотности в кристалле KM11F3 124
Результаты и выводы к главе 3 129
Основные результаты и выводы диссертации 130
Литература
