Введение
Глава 1. Современные методы контроля состояния и свойств поверхности 20
1.1. Импульсные методы исследования поверхности веществ 23
1.2. Методы исследования и контроля параметров веществ, находящихся в магнитном поле 40
Глава 2. Методика определения и контроля динамических характеристик электронных поверхностных состояний по сигналам резонансной циклотронной индукции 48
2.1. Электронные состояния в твердых телах 49
2.2. Методика исследования и контроля поверхностных энергетических уровней металлов и полупроводников по сигналам резонансной циклотронной индукции 53
2.3. Особенности проведения экспериментальных исследований параметров веществ по сигналам циклотронной индукции 58
2.4. Исследование и контроль динамических характеристик полупроводниковых и металлических материалов по сигналам резонансной циклотронной индукции 61
Глава 3. СВЧ спектрометр для неразрушающего контроля электронных поверхностных состояний 64
3.1. Магнетронный генератор коротких СВЧ импульсов с частотой заполнения 9380 МГц и генератор СВЧ импульсов малой мощности на диоде Ганна 70
3.2. Генератор импульсных последовательностей 73
3.3. Интегратор с временным селектированием сигнала циклотронной индукции 78
3.4. Аппаратурное обеспечение метода исследования 80
3.5. Технические характеристики СВЧ спектрометра 81
Глава 4. Проведение измерений и анализ полученных результатов 85
4.1 Достижение пороговой и оптимальной мощности для двух надповерхностных уровней 99
Заключение 103
Библиографический список использованной литературы 105
