Введение
1. Методы анализа содержания легких элементов в материалах 13
1.1. Метод резерфордовского обратного рассеяния 16
1.2. Метод спектрометрии ядерных реакций 21
1.3. Спектрометрия ядер отдачи 24
1.4. Спектрометрия ядерного обратного рассеяния 30
1.5. Возможности применения спектрометрии ЯОР 40
1.6. Выводы по главе 1 48
2. Оборудование и методы, использованные для проведения исследования и изготовления образцов. Исследуемые образцы 49
2.1. Экспериментальная установка на базе 120 см циклотрона НИИЯФ МГУ, методика измерения спектров ЯОР протонов и программное обеспечение 49
2.2. Экспериментальная установка на базе ускорителя Ван-дер-Граафа НИИЯФ МГУ 56
2.3. Метод микродугового оксидирования 60
2.4. Исследуемые образцы 66
3. Описание разработанной методики 68
3.1. Вариант методики: сравнение с эталоном без водорода 70
3.2. Вариант методики: сравнение с модельным спектром 80
3.3. Определение сечений для некоторых элементов 84
4. Практическое применение разработанной методики анализа 91
4.1. Определение содержания водорода в сплаве титана и циркония.91
4.2. Определение содержания водорода в карбиде вольфрама 96
4.3. Анализ защитных покрытий
4.4. Исследование радиационного урона при анализе оксидных покрытий, наполненных полимером 114
4.5. Анализ чувствительности разработанной методики ЯОР при исследовании сорбирующих водород углеродных нанотрубок 111
Заключение 121
Литература
