Рентгеновская диагностика в изучении особенностей формирования полупроводниковых наноструктур

Субботин Илья Александрович. Рентгеновская диагностика в изучении особенностей формирования полупроводниковых наноструктур : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 Москва, 2007 136 с., Библиогр.: с. 127-136 РГБ ОД, 61:07-1/1466
Автор
Субботин Илья Александрович
Год
2007
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
ГЛАВА 1. Литературный обзор - 10 -
Раздел 1. Полупроводниковая наноэлектроника на гетероструктурах с нанометровыми размерами слоев -10 -
Раздел 2. Методы получения нанометровых гетероструктур - 18 -
Раздел 3. Методы структурной диагностики низкоразмерных гетерокомпозиций -22-
ГЛАВА 2. Методы экспериментальных исследований - 30 -
Раздел 1. Высокоразрешающая рентгеновская диагностика в различных схемах дифракции - 30 -
Раздел 2. Рентгеновская рефлектометрия - 48 -
ГЛАВА 3. Результаты экспериментальных исследований и их обсуждение .-
Раздел 1. Наноразмерные гетероструктуры для создания мощных СВЧ-транзисторов - 59 -
Раздел 2. Сверхрешетки Si-SiGe и структуры с квантовыми точками ZnSe-CdSe в качестве активной области полупроводниковых лазеров - 74 -
Раздел 3. Разбавленные магнитные полупроводники GaAs/5-Mn/GaAs/(In,Ga)As/GaAs как основа для создания спинтронных устройств - 88-
Раздел 4. Развитие метода двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и анализа экспериментальных данных -114 -
Заключение -125-
Библиографический список

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Телегин Андрей Владимирович
Количество страниц
Год
2007
99 000 UZS
Автор
Родионова Юлия Александровна
Количество страниц
Год
2007
99 000 UZS
Автор
Руденко Анатолий Александрович
Количество страниц
Год
2007
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3