ВВЕДЕНИЕ...................................................................................................................... 4
Актуальность работы.................................................................................................. 4
Научная новизна.......................................................................................................... 7
Практическая значимость........................................................................................... 7
Основные положения, выносимые на защиту.......................................................... 8
Глава 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ. ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ И
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ИХ ХАРАКТЕРИСТИК.................................................... 14
1.1. Современные тенденции и применение пьезоэлектрических материалов .. 14
1.2 Современные монокристаллические пьезоэлектрические материалы.......... 16
1.3. Методы измерения пьезоэлектрических свойств и контроля структурных
неоднородностей ....................................................................................................... 20
1.3.1 Традиционные, нерентгеновские методы измерения пьезоэлектрических
констант...................................................................................................................... 20
1.3.2. Рентгенодифракционные методы исследования структурных
неоднородностей и пьезоэлектрических свойств кристаллов.............................. 27
1.4. Методика дифракции на углы, близкие к обратным...................................... 33
Глава 2. РЕАЛИЗАЦИЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ НА УГЛЫ
РАССЕЯНИЯ, БЛИЗКИЕ К ОБРАТНЫМ ................................................................. 41
2.1. Синхротронная станция «EXAFS-D» КИСИ .................................................. 47
2.2. Рентгенофлуоресцентный анализ на станции «EXAFS-D» КИСИ............... 54
2.3. Анализ погрешностей ........................................................................................ 57
2.4. Дополнительные методы исследования кристаллов ...................................... 60
2.4.1. Методика рентгеновской топографии………………………………………...60
2.4.2. Методика картирования элементного состава методом микро-РФлА……...613
Глава 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ЛОКАЛЬНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ
ВНЕШНЕГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ НА МОНОКРИСТАЛЛЫ
СЕМЕЙСТВА ЛАНГАСИТА....................................................................................... 64
3.1. Картирование локального относительного состава, относительного
межплоскостного расстояния и пьезоэлектрического модуля d11 монокристалла
лангасита .................................................................................................................... 66
3.2. Картирование локального относительного состава, относительного
межплоскостного расстояния и пьезоэлектрического модуля d11 монокристалла
лангатата..................................................................................................................... 76
Глава 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ЛОКАЛЬНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ
ВНЕШНЕГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ НА СМЕШАННЫЙ КРИСТАЛЛ LiNb1-
xTaxO3 .............................................................................................................................. 87
4.1. Картирование локального относительного состава, относительного
межплоскостного расстояния и пьезоэлектрического модуля d22 смешанного
кристалла LiNb1-xTaxO3 ............................................................................................. 90
ЗАКЛЮЧЕНИЕ ........................................................................................................... 100
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ И УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ.............................. 100
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ........................................................................................... 101
