Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии

Савин Владислав Олегович. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.01.- Москва, 2002.- 126 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-1/498-5
Автор
Савин Владислав Олегович
Год
2002

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Планирование эксперимента на системе атмосферных черенковских телескопов
99 000 UZS
Автор
Бугаёв Вячеслав Валерьевич
Количество страниц
Год
2002
Экспериментальные методы исследования границы раздела фаз полимерных композиционных материалов
99 000 UZS
Автор
Хамичева, Татьяна Викторовна
Количество страниц
Год
2000
Имитационная система для гидрофизического эксперимента в неоднородной среде
99 000 UZS
Автор
Буй Куок Нгиа
Количество страниц
Год
2002
Применение метода рентгеноэлектронной спектроскопии для температурных и временных исследований расплавов на основе никеля
99 000 UZS
Автор
Пономарёв, Александр Геннадьевич
Количество страниц
Год
2000
Разработка и создание измерительной аппаратуры для спектрометра СФЕРА
99 000 UZS
Автор
Русанов, Иван Русалинов
Количество страниц
Год
2000
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3