Введение
ГЛАВА 1. Литературный обзор и постановка задачи исследований 10
1.1. Геометрия резонатора. Распределение полей. Добротность и ускоряющее напряжение 10
1.2. Поверхностное сопротивление и максимальная добротность ... 13
1.3. "Чистота" ниобия. Параметр гинзбурга-ландау 14
1.4. Поверхностное магнитное поле и максимальное ускоряющее напряжение 16
1.5. Изготовление и обработка резонаторов 18
1.5.1. Изготовление 18
1.5.2. Обработка 19
1.6. Тестирование добротности резонаторови термометриЯ 22
1.6.1. Зависимость добротности от темпа ускорения "QvsEacc" 22
1.6.2. Температурные карты "Т-map" 23
1.7. Литературный обзор процесса HFQS 24
1.7.1. Прокалка при температуре 120С в течение 48 часов 25
1.7.2. Данные по тестовым испытаниям резонаторов 27
1.7.3. Структура ниобия на лондоновской глубине проникновения до прокалки 28
1.7.4. Структура ниобия на лондоновской глубине проникновения после прокалки 31
1.7.5. Возможные факторы, влияющие на потери и сопутсвующие механизмыпотерь 33
1.8. Литературный обзор процесса Q-disease 36
1.8.1. Данные по тестовым испытаниям резонаторов
1.8.2. Возможные факторы, влияющие на потери, и сопутствующие механизмы потерь 38
1.9. Обоснование выбора объектов исследований 41
1.10. Постановка задачи исследований 43
ГЛАВА 2.Экспериментальная часть 44
2.1. Экспериментальные образцы из ниобия 44
2.1.1. Образцы для измерения электросопротивления 44
2.1.2. Образцы для измерения магнитной восприимчивости 47
2.1.3. Образцы для эксперимента по дифракции отраженных электронов (ДОЭ) 50
2.1.4. Образцы для профилометрии 51
2.2. Методы исследования образцов 52
2.2.1. Растровая электронная микроскопия (РЭМ) 52
2.2.2. Диффракция отраженных электронов (ДОЭ) 54
2.2.3. Измерение электросопротивления 56
2.2.4. Измерение магнитной восприимчивости 57
2.2.5. Контактная профилометрия 58
ГЛАВА 3. Результаты исследований 59
3.1. Исследование диссипации по механизму потерь добротности при высокой амплитуде магнитного поля (HFQS) 59
3.1.1. Моделирование по результатам профилометрии 59
3.1.2. Моделирование по результатам регистрации температурных карт 64
3.1.3. Исследование структуры методом дифракции отраженных электронов (ДОЭ) 68
3.1.4. Исследование структуры методом измерения магнитной восприимчивости
