Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография

Дунаевский Михаил Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Дунаевский Михаил Сергеевич; [Место защиты: Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе РАН].- Санкт-Петербург, 2007.- 163 с.: ил. РГБ ОД, 61 07-1/1319
Автор
Дунаевский Михаил Сергеевич
Год
2007

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Люминесценция кристаллов вольфраматов двухвалентных элементов и свинца
99 000 UZS
Автор
Якимова Ирина Олеговна
Количество страниц
Год
2008
Перестраиваемые одномерные фотонные кристаллы на основе щелевого кремния и жидкокристаллического наполнителя
99 000 UZS
Автор
Жарова Юлия Александровна
Количество страниц
Год
2007
Поляризационные оптические явления в полупроводниках и полупроводниковых структурах
99 000 UZS
Автор
Андрианов Александр Васильевич
Количество страниц
Год
2007
Квантовые процессы и соотношения в полупроводниковых кристаллах при поглощении фотонов большой энергии
99 000 UZS
Автор
Ивахно Владимир Никитич
Количество страниц
Год
2007
Особенности излучательной рекомбинации в p-n-гетероструктурах InGaN/AlGaN/GaN с множественными квантовыми ямами и светодиодах на их основе
99 000 UZS
Автор
Бадгутдинов Мансур Лябибович
Количество страниц
Год
2007
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3