Введение
Глава 1. Методы диагностики поперечного профиля электронных пучков современных ускорителей 17
1.1 Введение 17
1.2 Методы измерения размеров и профилей пучков на основе проволочных сканеров 19
1.2.1 Проволочные сканеры с материальными проволочками 19
1.2.2 Проволочные сканеры с лазерными проволочками 21
1.2.3 Мониторы на основе интерференции лазерного излучения 24
1.3 Методы измерения размеров и профилей пучков на основе синхротронного излучения 30
1.4 Методы измерения размеров и профилей пучков на основе переходного излучения 35
1.5 Методы измерения размеров и профилей пучков на основе сцинтилляторов 38
1.6 Методы измерения размеров и профилей пучков на основе дифракционного излучения 39
1.7 Вывод по главе 44
Глава 2. Визуализация поперечного профиля электронного пучка микронных размеров на основе переходного излучения 46
2.1 Введение 46
2.2 Теоретическая модель 52
2.3 Визуализация размера пучка в случае наклонённой мишени 60
2.4 Аппроксимирующая функция для анализа размера пучка при доминировании SPF 66
2.5 Анализ характеристик двугорбых изображений, получаемых при доминировании SPF 75
2.6 Характеристики положения максимума в двугорбом распределении для случая а—компоненты излучения 84
2.7 Измерение поперечного размера электронного пучка для случая 7Г—компоненты излучения 88
2.8 Выводы по главе 93
Глава 3. Измерение поперечного профиля электронных пучков микронных размеров на основе обратного переходного излучения видимого диапазона 95
3.1 Введение 95
3.2 Экспериментальная установка 95
3.3 Результаты экспериментальных исследований по визуализации поперечного размера пучка 1 3.3.1 Результаты, полученные с использованием сцинтиллятора 101
3.3.2 Результаты, полученные при использовании обратного переходного излучения 107
3.3.3 К вопросу о внеосевой фокусировке излучения объективом Шварцшильда 125
3.3.4 К вопросу о положении максимума q\ 128
3.4 Выводы по главе 132
Глава 4. Визуализация профиля электронного пучка на основе обратного переходного излучения в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 134
4.1 Введение 134
4.2 Теоретическая модель генерации обратного переходного излучения в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 136
4.2.1 Сущность метода двойного токового слоя 136
4.2.2 Метод изображений и метод поляризационных токов 141
4.2.3 Использование обоих методов для экспериментального случая 143
4.3 Экспериментальная установка для исследования пространственных характеристик обратного переходного излучения в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 146
4.4 Экспериментальные пространственные распределения обратного переходного излучения в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 149
4.5 Установка для визуализации поперечного профиля электронного пучка в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 154
4.6 Результаты эксперимента по визуализации поперечного профиля электронного пучка в спектральном диапазоне вакуумного ультрафиолета 157
4.7 Выводы по главе 167
Заключение 168
Список литературы 177
