Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок
Высоких Юрий Евгеньевич. Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок: диссертация ... кандидата Технических наук: 05.11.13 / Высоких Юрий Евгеньевич;[Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»], 2019.- 111 с.