Введение
Глава 1 Диагностическое обеспечение качества ИС 13
1.1 Диагностирование ИС 13
1.2 Анализ дефектов и механизмов отказов 20
1.3 Статистическое описание отказов и распре деления дефектов 26
1.4 Программно-аппаратные средства диагностирования и контролепригодность ис 32
1.5 Функционально-стоимостной анализ диагностирования 36
1.6 Интеграция разработка - производство 40
1.7 Выводы 45
Глава 2 Методика сквозного диагностирования и обеспечение контролепригодности ИС на БМК 47
2.1 Контролепригодность и расчетопригодность конструкции БМК КР1580ХМЗ 49
2.2 Электрические параметры микросхем на БМК 56
2.3 Модели компонентов ИС 57
2.4 Тестовая и диагностическая ИС 62
2.5 Модель многомерного анализа электрофизических характеристик ИС 65
2.6 Метод контроля параметров и характеристик ис при контролируемом саморазогреве 73
2.7 Реализация микросхем на БМК КР1580ХМЗ 83
2.8 Выводы 83
Глава 3 Средства автоматизации контроля 86
3.1 Программно-аппаратный комплекс 86
3.2 Программное обеспечение 101
3.3 Метрологические характеристики метода 106
3.4 Выводы 111
Глава 4 Экспериментальные исследования 113
4.1 Практическая реализация ПАК 113
4.2 Анализ кристаллов ИС, изготовленных в рамках методики сквозного диагностирования 115
4.3 Диагностирование тепловых режимов ИС 117
4.4 Анализ и обоснование эффективности замены ЭТТ методами ДК 119
4.5 Выводы 122
Заключение 124
Список использованных источников 126
