Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей

Новиков Алексей Сергеевич. Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей : диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.15.- Владивосток, 2002.- 133 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-5/2890-4
Автор
Новиков Алексей Сергеевич
Год
2002
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
1 Функциональное тестирование памяти 8
2 Маршевый тест для одноразрядной памяти
2.1 Модель неисправностей одноразрядной памяти 23
2.2 Маршевый тест для одноразрядной памяти 24
3 Маршевый тест для многоразрядной памяти 35
3.1 Модель неисправностей многоразрядной памяти 35
3.2 Маршевый тест для многоразрядной памяти 36
4 Программная реализация результатов исследований 44
4.1 Особенности тестирования памяти с учетом кэширования 47
Заключение 57
Список литературы 58

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Шахмаметова, Гюзель Радиковна
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Шамаров Павел Александрович
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Щапова Ирина Николаевна
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Якимов, Александр Евгеньевич
Количество страниц
Год
2000
99 000 UZS
Автор
Паринов, Сергей Иванович
Количество страниц
Год
2000
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3