Введение
ГЛАВА 1. Вопросы методики количественного рентгеноспектрального микроанализа. (литературный обзор) 11
1.1. Практические методы расчетов количественного содержания элемента 12
1.2. Взаимодействие электронного пучка с веществом 13
1.3. Функция распределения рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине 19
1.4. Развитие методов расчета функции (z) 23
1.5. Методы учета матричных эффектов при рентгеноспектральном микроанализе 31
1.6. Выводы к главе 1 и постановка задач исследования 43
ГЛАВА 2. Новое аналитическое выражение для описания распределения рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине . 47
2.1. Методика расчета функции (z) 47
2.1.1. Расчет транспортного пробега электронов для функции (z).. 48
2.1.2. Учет влияния неупругого рассеяния электронов пучка на распределение (z) в образцах с низким значением среднего атомного номера 52
2.1.3. Учет пространственной симметрии протекания процесса многократного рассеяния относительно положения координаты максимума zр распределения поглощенных электронов пучка 55 Стр.
2.1.4. Расчет максимальной глубины генерации рентгеновского характеристического излучения 56
2.2. Сравнение с экспериментом 58
2.3. Выводы к главе 2 65
ГЛАВА 3. Расчет матричных поправок, основанный на новой модели для функции распределения рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине (z) .66
3.1. Матричная поправка на поглощение 66
3.2. Матричная поправка на обратное рассеяние 75
3.3. Выводы к главе 3 77
ГЛАВА 4. Оценка возможности использования новых матричных поправок в КРСМА 79
4.1. Сравнительный анализ точности расчетов новых матричных поправок 79
4.2. Некоторые возможности использования матричных поправок для решения обратной задачи количественного рентгеноспектрального микроанализа . 90
4.3. Выводы к главе 4 93
Общие выводы и заключение 95
Литература 97
