Введение
Глава I. Рентгеновское излучение в исследованиях свойств тонких пленок 10
1. Тонкая структура рентгеновского поглощения вблизи краёв.
Исследования электронной структуры атомов в среде 10
2. Рентгеновский круговой дихроизм в окрестности краев поглощения. Новая информация в теории магнетизма 17
3. Рентгеновская рефлектометрия: структурные и магнитные исследования 23
4. Метод стоячих рентгеновских волн в условиях зеркального отражения 32
5. Методы восстановление компонент тензора восприимчивости 39
6. Теория магнитной рентгеновской рефлектометрии 46
Глава II. Кинематический предел в теории рефлектомерии 51
1. Скалярный случай 52
2. Матричные рекуррентные соотношения 54
3. Кинематическая формула для матричного коэффициента отражения в случае планарной намагниченности слоев и ее обощение 59
4. Анализ пределов применимости кинематической теории отражения в анизотропном случае при разных упрощениях 65
Основные результаты и выводы Главы II:
Глава III. Проблемы интерпретации спектров xanes, измерен-ных с помощью tey при разных углах скольжения 72
1. Влияние оптических эффектов на форму спектров TEY XANES 74
2. Интерпретация спектра TEY XANES для плёнки GalnP 86
Основные результаты и выводы Главы III: 92
Глава IV. Резко асимметричная дифракция как метод определения магнитооптических констант для рентгеновского излучения вблизи краев поглощения ... 93
1. Интерпретация аномальных всплесков интенсивности на кривых выхода флуоресцентного излучения от плёнки YFe2 94
2. Теория резко асимметричной дифракции. Кинематическое приближение 99
3. Динамическая теория резко асимметричной дифракции в общем некомпланарном случае 102
4. Динамическая теория резко асимметричной дифракции в компланарном случае 109
5. Моделирование спектральной зависимости положения максимума дифракционного отражения в условия резко ассиметричной
дифракции 111
Основные результаты Главы IV: 121
Основные результаты и выводы 122
Приложение 124
Цитируемая литература
