Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа
Белехов Ярослав Сергеевич. Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.07 / Белехов Ярослав Сергеевич; [Место защиты: Науч.-исслед. ин-т Прецизионного Приборостроения].- Великий Новгород, 2007.- 302 с.: ил. РГБ ОД, 61 07-5/3936