Особенности распределения компонентов в наноразмерных структурах, выявленные методом вторично-ионной масс-спектрометрии

Молоканов Олег Артемович. Особенности распределения компонентов в наноразмерных структурах, выявленные методом вторично-ионной масс-спектрометрии : Дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 : Нальчик, 2004 152 c. РГБ ОД, 61:05-5/858
Автор
Молоканов Олег Артемович
Год
2004

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Исследование электропроводности полупроводниковых и диэлектрических сред с помощью методов математического моделирования
99 000 UZS
Автор
Негуляев Николай Николаевич
Количество страниц
Год
2004
Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств
99 000 UZS
Автор
Рехвиашвили Серго Шотович
Количество страниц
Год
2004
Плёнки диоксида ванадия в устройствах индикаторной техники и микроэлектроники
99 000 UZS
Автор
Олейник Анатолий Семёнович
Количество страниц
Год
2004
Углеродные и неуглеродные наноматериалы и композитные структуры на их основе: строение и электронные свойства. Полуэмпирические исследования
99 000 UZS
Автор
Запороцкова Ирина Владимировна
Количество страниц
Год
2005
Влияние разупорядочения на характеристики сверхпроводниковых компонент квантовых приборов
99 000 UZS
Автор
Семенихин Игорь Александрович
Количество страниц
Год
2004
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3