Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей

Быков, Виктор Александрович. Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей : диссертация ... доктора технических наук : 05.27.01, 01.04.01.- Москва, 2000.- 402 с.: ил. РГБ ОД, 71 01-5/264-X
Автор
Быков, Виктор Александрович
Год
2000

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Методы зондовой диагностики микроструктур: теория, моделирование и обратные задачи
99 000 UZS
Автор
Зайцев Сергей Иванович
Количество страниц
Год
2000
Формирование и люминесцентные свойства ансамблей нанокристаллических частиц кремния
99 000 UZS
Автор
Лешок, Андрей Александрович
Количество страниц
Год
2000
Тонкопленочные микросхемы на основе алюминия и его оксидов для криогенных температур
99 000 UZS
Автор
Короткевич, Александр Васильевич
Количество страниц
Год
2000
Влияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремния
99 000 UZS
Автор
Нарейко, Андрей Игоревич
Количество страниц
Год
2000
Моделирование и исследование полупроводниковых структур с вольт-амперными характеристиками N-типа и приборов на их основе
99 000 UZS
Автор
Новоселов, Алексей Юрьевич
Количество страниц
Год
2000
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3