Прямой элементный и изотопный анализ твердофазных непроводящих материалов с помощью времяпролетной масс-спектрометрии с импульсным тлеющим разрядом

Губаль Анна Романовна. Прямой элементный и изотопный анализ твердофазных непроводящих материалов с помощью времяпролетной масс-спектрометрии с импульсным тлеющим разрядом: диссертация ... кандидата химических наук: 02.00.02 / Губаль Анна Романовна;[Место защиты: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет"].- Санкт-Петербург, 2016.- 172 с.
Автор
Губаль Анна Романовна
Год
2016
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
1. Прямые методы элементного и изотопного анализа 8
1.1. Рентгеновские методы элементного анализа 8
1.1.1.Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) 8
1.1.2. Электронно-зондовый микроанализ (ЭЗМА) 10
1.1.3. Электронная Оже-спектроскопия (ЭОС) 11
1.1.4. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) 12
1.2. Ядерно-физические методы элементного и изотопного анализа 14
1.2.1. –спектрометрия 14
1.2.2. -спектрометрия 15
1.2.3. Нейтронно-активационный анализ (НАА) 16
1.3. Оптические эмиссионные методы элементного анализа 18
1.3.1. Лазерно-искровая эмиссионная спектрометрия (ЛИЭС) 18
1.3.2. Оптическая эмиссионная спектроскопия с лазерной абляцией и индуктивно-связанной плазмой (ЛА ИСП ОЭС) 20
1.3.3. Оптическая эмиссионная спектроскопия с тлеющим разрядом (GDOES) 21
1.4. Масс-спектральные методы элементного и изотопного анализа 23
1.4.1. Искровая масс-спектрометрия (SSMS) 25
1.4.2. Масс-спектрометрия с ионизацией лазером (МСИЛ) 26
1.4.3. Лазерная абляция с масс-спектрометрией с индуктивно связанной плазмой (ЛА ИСП МС) 28
1.4.4. Масс-спектрометрия вторичных ионов (ВИМС) 32
1.4.5. Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GDMS)
4.5.1. Основы метода 35
1.4.5.2. Аналитические возможности метода 40
1.4.5.3. Градуировка, метод RSF 43
1.4.5.4. Интерференции, мешающее влияние воды и кислорода 44
1.4.5.5. Особенности анализа непроводящих материалов 48
2. Используемые методы исследования и приборы 51
2.1. Оптический эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом (GDOES) GDA-650.. 51
2.2. Масс-спектрометр с импульсным тлеющим разрядом (GDMS) Люмас-30 53
2.3. Выбор эффективной схемы распыления непроводящих материалов з
3. Установление механизма распыления непроводящих проб в КПК 65
4. Определение коэффициентов RSF для импульсного разряда в КПК, сравнение с непрерывными разрядами 77
5. Устранение мешающего влияния воды и кислорода 87
6. Прямой анализ полупроводниковых материалов: Si, SiC, GaN 96
7. Прямой анализ диэлектрических материалов на примере урансодержащих минералов, порошковых проб и микрочастиц
7.1. Элементный анализ. Определение U и Th в минералах 107
7.2. Изотопный анализ
7.2.1. Изотопный анализ минералов. Определение изотопных соотношений U, Pb .. 129
7.2.2. Изотопный анализ Чернобыльских микрочастиц 131
8. Детектирование структуры сапфира с помощью DC PGD TOFMS 140
Заключение 152
Выводы 154
Список используемых сокращений 155
Список литературы

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Дербина Анастасия Андреевна
Количество страниц
Год
2016
99 000 UZS
Автор
Леонов Клим Андреевич
Количество страниц
Год
2017
99 000 UZS
Автор
Маркина Мария Геннадьевна
Количество страниц
Год
2017
99 000 UZS
Автор
Дёрина Ксения Владимировна
Количество страниц
Год
2016
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3