Программно-аппаратный комплекс измерения и идентификации статических параметров схемотехнических моделей мощных полупроводниковых структур

Капралов Сергей Анатольевич. Программно-аппаратный комплекс измерения и идентификации статических параметров схемотехнических моделей мощных полупроводниковых структур : Дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 Великий Новгород, 2005 203 с. РГБ ОД, 61:05-5/2580
Автор
Капралов Сергей Анатольевич
Год
2005

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Люминесцентные свойства микро- и наноструктур на основе оксида цинка
99 000 UZS
Автор
Якимов Евгений Евгеньевич
Количество страниц
Год
2006
Тонкопленочные структуры "молибден-медь" с эффектом близости и сверхпроводниковым переходом для сверхчувствительных субмиллиметровых болометров
99 000 UZS
Автор
Коваленко Алла Григорьевна
Количество страниц
Год
2005
Разработка математического, алгоритмического и программного обеспечения микроэлектронных устройств сжатия мозаичных изображений матричных фотоприемников
99 000 UZS
Автор
Ковлига Игорь Миронович
Количество страниц
Год
2005
Нелинейно-оптическая диагностика материалов микроэлектроники
99 000 UZS
Автор
Мишина Елена Дмитриевна
Количество страниц
Год
2004
Особенности распределения компонентов в наноразмерных структурах, выявленные методом вторично-ионной масс-спектрометрии
99 000 UZS
Автор
Молоканов Олег Артемович
Количество страниц
Год
2004
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3