Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Орешков, Максим Викторович. Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами : диссертация ... кандидата технических наук : 01.04.10 / Орешков Максим Викторович; [Место защиты: Нац. исслед. ун-т МЭИ].- Москва, 2012.- 174 с.: ил. РГБ ОД, 61 12-5/2534
Автор
Орешков, Максим Викторович
Год
2012

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Электрофизические и фотоэлектрические характеристики МДП-структур на основе гетероэпитаксиального варизонного HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии, с различными диэлектриками
99 000 UZS
Автор
Дзядух, Станислав Михайлович
Количество страниц
Год
2010
Особенности морфологии легких и интраорганных кровеносных сосудов у ягнят
99 000 UZS
Автор
Талипов Нияз Хатимович
Количество страниц
Год
2016
Наноразмерные структуры Si/SiO2 и сенсоры на их основе
99 000 UZS
Автор
Наумова, Ольга Викторовна
Количество страниц
Год
2012
Особенности трансформации наноалмазов при отжиге
99 000 UZS
Автор
Сиклицкая Александра Вадимовна
Количество страниц
Год
Влияние состава и толщин слоев на электрофизические свойства квантово-размерных структур на основе ZnCdS/ZnSSe, ZnSSe/ZnMgSSe
99 000 UZS
Автор
Милованова, Оксана Александровна
Количество страниц
Год
2010
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3