Введение
Глава 1 Компьютерные методы моделирования и обработки кривых потенциометрнческого титрования 12
1.1 Дифференциальные методы 14
1.2 Методы обработки кривых потенциометрнческого титрования, основанные на их физико-химическом моделировании 18
1.3 Метод численного статистического моделирования (метод Монте-Карло) 28
1.4 Метод эмпирического моделирования с использованием нейронных сетей 30
Глава 2 Математическое моделирование кривых потенциометрнческого титрования по реакциям дробного осаждения 32
2.1 Вывод уравнения кривой титрования 35
2.2 Линеаризация кривой титрования 38
2.3 Расчет параметров титрования 40
2.4 Расчет статистических весов 42
2.4.1 Стадия осаждения иона А 44
2.4.2 Стадия осаждения иона В 44
2.4.3 Стадия осаждения иона С 45
2.5 Численное статистическое моделирование кривой титрования 46
2.5.1 Стадия осаждения иона А 48
2.5.2 Стадия осаждения иона В 49
2.5.3 Стадия осаждения иона С 49
Глава 3 Линейный регрессионный анализ данных титрования 51
3.1 Апробация метода на материале компьютерного эксперимента 52
3.1.1 Смесь серебра(І) и кадмия(П) 53
3.1.2 Смесь меди(И) и селена(ГУ) 56
3.1.3 Смесь кадмия(П), ртути(И) и теллура(ІУ) 60
3.1.4 Прогнозирование случайной погрешности оценки точки эквивалентности по предлагаемому методу 64
3.2 Применение метода к анализу модельных растворов и реальных объектов 68
3.2.1 Аппаратурам реактивы , 68
3.2.2 Смесь серебра(1)и кадмия(П) , 69
3.2.3 Смесь кадмия(И) и теллура(ІУ) 73
3.2.3.1 Анализ модельных растворов 73
3.2.3.2 Анализ основного состава полупроводникового теллурида кадмия 75
3.2.4 Смесь ртути(П) и теллура(ІУ) 78
3.2.5 Смесь кадмия(П) и селена(1У) 81
3.2.6 Смесь меди(И) и селеиа(ІУ) 84
3.2.6.1 Селективное титрование меди (II) и селена (IV) в их смеси при различных рН среды 84
3.2.6.2 Дифференцированное титрование меди (II) и селена (IV) в их смеси при постоянном значении рН 87
3.2.6.3 Анализ основного состава полупроводникового селенида меди 89
3.2.7 Смесь ртути(П) и селена (IV) 92
3.2.8 Смесь ртути(Н), теллура(ІУ) и кадмия(П) 95
3.2.8.1 Анализ модельных растворов 95
3.2,8,2 Анализ основного состава полупроводникового сплава теллуридов кадмия и ртути 100
3.2.9 Смесь палладия(П), серебра(1)и меди(Н) 104
3.2.10 Смесь серебра(І), свинца(П) и никеля(Н) ПО
Заключение 114
Выводы
Литература 120
Приложение 1 131
Приложение 2 134
Приложение 3 139
Приложение4 143
Приложение 5 147
