Введение
1. Волноводы класса «полый диэлектрический канал» как основа для создания квазиоптического рефлектометра 12
2. Квазиоптический рефлектометр. 19
2.1. Схема рефлектометра 19
2.2. Дифракция на ребрах волноводного креста 23
2.3. Расчет величины основного сигнала 25
2.4. Расчет паразитного сигнала 28
2.4.1 Расчет паразитного сигнала, обусловленного присутствием делительной пластины 28
2.4.2. Расчет паразитного сигнала, обусловленного прямым просачиванием 32
2.5. Расчет направленности 35
2.6. Поляризационный рефлектометр 38
3. Методики измерения с использованием рефлектометра в комплекте с векторным анализатором цепей 41
3.1. Измерение коэффициентов отражения 41
3.2. Измерение обратного рассеяния от физических тел 43
3.3 Поляризационные измерения 46
3.4 Измерение диэлектрической и магнитной проницаемостей 48
4. Методики измерения с использованием рефлектометра в комплекте со скалярным измерителем к СВН . 52
4.1. Измерение коэффициентов отражения 52
4.2. Поляризационные измерения 59
4.3 Измерение диэлектрической и магнитной проницаемостей 61
4.4 Реализация метода одновременного измерения диэлектрической и магнитной проницаемостей 68
5. Результаты измерения обратного рассеяния от физических тел . 78
5.1 Тонкий проводящий сектор 78
5.3 Тонкий проводящий и анизотропный зубцы 81
5.2 Кромка с переменной прозрачностью 85
5.4. Согласующий переход с переменной анизотропной проводимостью между металлической и импедансной поверхностями 87
5.6- Малые многозаходные проволочные спирали 89
5.7. Протяженный цилиндр с анизотропной проводимостью 93
5.8. Способ уменьшения обратного рассеяния от тонкого проводящего зубца 96
Заключение 98
Литература 100
Приложение. Основные характеристики ряда рефлектометров диапазона 2-300ГТц 109
