Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем

Галушко Михаил Анатольевич. Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01.- Нальчик, 2002.- 133 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-5/2708-8
Автор
Галушко Михаил Анатольевич
Год
2002
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
Глава I. Физические и структурные характеристики гетероструктур
1.1. Деформации и их влияние на физические характеристики эпитаксиальных гетеро структур
1.2. Зависимость критической толщины псевдоморфного эпитаксиального слоя от упругих напряжений и величины НИР .
1.3. Цель исследования и постановка задачи 36
Глава II. Континуальная теория упругости многослойных гетероструктур .
2.1. Источники искажений формы и внутренней структуры кристалла
2.2. Уравнения континуальной теории упругости для кристалла, искаженного
действием различных источников.
2.3. Уравнения континуальной теории упругости для кристалла с распределением точечных дефектов
2.4. Тензор HTTP и полная система уравнений континуальной теории упругости гетероструктур .
Глава III. Основные уравнения упруго- и пластически деформированного состояния гетероструктур кубической и гексагональной сингоний .
1. Тензор упругой жесткости для гетероструктур с ориентациями пленок
(001), (ПО), (111) кубической и (0001), (2110) гексагональной сингоний
2. Основные уравнения для решения задачи упруго- и пластически деформированного состояния гетероструктур
3. Многослойная гетероструктура произвольного типа
4. Упруго- и пластически деформированная двухслойная гетероструктура
Глава IV. Определение структурных параметров в эпитаксиальных кристаллических системах
1. Определение компонент тензора деформации методом рентгеновской дифрактометрии
4.1.1. Метод кривых качания 79
4.1.2. Рентгенодифрактометрическое измерение кривизны
2. Влияние пластической деформации подложки на профиль напряжений и критическую толщину эпитаксиальной пленки.
4.2.1 Расчет положения нейтралей в двухслойной ЭС кубической сингонии.
4.2.2 Расчет критических толщин эпитаксиальной пленки кубической сингонии .
3. Рештенодифракционный способ определения параметров многослойных гетероструктур.
4. Способ рентгенотопографического исследования гетероструктур на сателлите сверхрешетки.
Заключение и основные результаты 118
Литература

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Филипенко Наталья Андреевна
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Хорин Иван Анатольевич
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Шевчук Сергей Леонидович
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Мустафаева Джамиля Гусейновна
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Яблочкина Галина Ивановна
Количество страниц
Год
2002
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3