Вероятностные модели кратковременной электрической прочности и токов утечки случайно-неоднородных конденсаторных диэлектриков

Красильщиков Борис Романович. Вероятностные модели кратковременной электрической прочности и токов утечки случайно-неоднородных конденсаторных диэлектриков : ил РГБ ОД 61:85-1/1541
Автор
Красильщиков Борис Романович
Год
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
1. СТАТИСТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КРАТКОВРЕМЕННОЙ ЭЛЕКТРИ
ЧЕСКОЙ ПРОЧНОСТИ РЕАЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ ( ПО МАТЕРИАЛАМ
ЛИТЕРАТУРЫ) 6
1.1. Связь между степенью однородности диэлектриков и их электрической прочностью 6
1.2. О применимости нормального распределения для описания статистики электрической прочности 16
1.3. Зависимость электрической прочности от площади изоляции. Построения на базе модели слабейшего звена . . 24
1.4. Предельные распределения минимальных значений .... 38
1.5. Собственная прочность изоляции, соответствующая "бездефектным" образцам. Вероятностные модели пробоя на основе упрощающих предположений о
структуре и роли дефектов 51
1.6. Выводы 59
2. СТАТИСТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОБОЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК
С ДЕФЕКТАМИ, СЛУЧАЙНО РАСПРЕДЕЛЕННЫМИ ПО ПЛОЩАДИ 66
2.1. Общий вид функции распределения Unp образцов изолирующей пленки. Модель локальных слабых мест .... 66
2.2. Случаи, не сводящиеся к изолированным дефектам.
Ми.) как характеристика изоляционного материала ... 75
2.3. Системы, выдерживающие многократный пробой 88
2.4. Связь функции распределения F^(a) с распределением минимального значения в выборке фиксированного объема. Графический метод исследования сходимости к предельным видам 89
2.5. Распределение токов утечки . 98
2.6. Выводы 103
3. ПРИМЕНЕНИЕ СТАТИСТИЧЕСКОЙ МОДЕЛИ ПРОБОЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
ПЛЕНОК К РЕАЛЬНЫМ ТОНКОПЛЕНОЧНЫМ МДМ СТРУКТУРАМ 106
3.1. Постановка задач и экспериментальная методика исследования кратковременной электрической прочности тонкопленочных МДМ структур 106
3.2. Электрическая прочность тонкопленочных МДМ структур на основе анодных окислов алюминия и тантала . . 114
3.3. МДМ структуры с напыленным и термически окисленным диэлектриком 127
3.4. Число пробоев в конденсаторе как случайная величина. Связь между зависимостью N(u) и функциями распределения Unp первого и последующих пробоев . . 137
3.5. Выводы 143
4. СТАТИСТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОБОЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СЛОЯ С ОБЪЕМНО РАСПРЕДЕЛЕННЫМИ ДЕФЕКТАМИ. РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ В СРЕДЕ С ХАОТИЧЕСКИ РАСПОЛОЖЕННЫМИ ОРИЕНТИРОВАННЫМИ ДИПОЛЯМИ 145
4.1. Распределение числа дефектов в потенциальном канале пробоя 145
4.2. Простейший учет влияния проводящих включений на электрическую прочность 152
4.3. Распределение потенциала и проекций напряженности электрического поля в среде с хаотически распределенными по объему ориентированными диполями . . . 157
4.4. Выводы 167
ЗАКЛЮЧЕНИЕ И ВЫВОДЫ 168
ЛИТЕРАТУРА 172
ПРИЛОЖЕНИЕ 188

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Гусейнов Ниязи Музафарович
Количество страниц
Год
99 000 UZS
Автор
Левин Евгений Иосифович
Количество страниц
Год
99 000 UZS
Автор
Логинова Инга Дмитриевна
Количество страниц
Год
99 000 UZS
Автор
Ионов Александр Николаевич
Количество страниц
Год
99 000 UZS
Автор
Лю Сын Нам 0
Количество страниц
Год
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3